CMI563涂層測(cè)厚儀
牛津儀器表面銅厚度CMI563措施的申請(qǐng),服務(wù)質(zhì)量控制的印刷電路板產(chǎn)業(yè)的需求。該軟件包包括一個(gè)多功能手持與保護(hù),便于攜帶,一案進(jìn)行測(cè)量探頭配備單位,和NIST可追蹤校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。牛津儀器探頭采用專有的SRP- 4微阻技術(shù)經(jīng)濟(jì)特點(diǎn),用戶可更換的測(cè)量技巧