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OmniScan MX PA相控陣儀相控陣檢測(cè)相控陣技術(shù)  相控陣技術(shù)生成超聲波束，這些超聲波束的參數(shù)，如：角度、聚焦范圍和焦點(diǎn)尺寸等，可以通過(guò)軟件進(jìn)行控制。而且，聲束可在一個(gè)很長(zhǎng)的陣列上被多路切換。這些特點(diǎn)為相控陣技術(shù)增加了一系列新的應(yīng)用功能。例如，在掃查工件時(shí)，可以不移動(dòng)探頭本身而快速改變聲束角度。相控陣還可以代替多個(gè)探頭以及機(jī)械部分。以可以變換角度的聲束檢測(cè)部件，可以充分發(fā)揮檢測(cè)性能、優(yōu)化信噪比，而不用考慮缺陷方向。 相控陣的優(yōu)勢(shì) 相控陣技術(shù)具有以下優(yōu)勢(shì)： 聲束角度、聚焦范圍和焦點(diǎn)尺寸的軟件控制。 僅用一個(gè)小型電子控制的多晶片探頭即可實(shí)現(xiàn)多角度掃查。 對(duì)復(fù)雜幾何形狀材料的檢測(cè)具有更大的靈活性。 無(wú)活動(dòng)部件的高速掃查。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
OmniScan MX PA相控陣儀軟件 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
全功能A掃描、B掃描和C掃描  以O(shè)mniScan UT的功能為基礎(chǔ)建立的OmniScan® PA可提供全功能A掃描、B掃描和C掃描顯示。 全功能扇形掃查   實(shí)時(shí)體積校正顯示 高于20 Hz的刷新率（可高達(dá)40 Hz） 高級(jí)實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)處理  采集數(shù)據(jù)時(shí)，實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)插值改進(jìn)了缺陷的空間顯示。 用戶可選的高、低通濾波器提高了A掃描和成像的質(zhì)量。 操作者使用投影功能，可以同時(shí)看到垂直顯示的A掃描和扇形掃描圖像。 校準(zhǔn)過(guò)程和參數(shù) 使用"下一步"和"返回"按鈕，可以根據(jù)向?qū)Р藛蔚闹笇?dǎo)逐步進(jìn)行操作。 組向?qū)Ш途劢狗▌t向?qū)?/STRONG> 使用組向?qū)?，用戶可輸入所有探頭、零件和聲束的參數(shù)，并一步生成所有聚焦法則，而非每改變一個(gè)參數(shù)便計(jì)算一次聚焦法則。 逐步向?qū)Э煞乐褂脩暨z漏對(duì)某一參數(shù)的修改。 在線幫助提供參數(shù)設(shè)置的一般信息。 多組選項(xiàng) 現(xiàn)在可以用兩種配置管理一個(gè)以上的探頭： 不同的夾角、不同的掃查方式、不同的檢測(cè)區(qū)域以及其它一些參數(shù)。 多組檢測(cè)可采用的配置 A 使用一個(gè)單獨(dú)的64個(gè)或更多晶片的相控陣探頭，創(chuàng)建２個(gè)不同的組：  45º線性掃查，通過(guò)底面反射來(lái)覆蓋零件的上部 60º線性掃查，覆蓋零件的下部 B 使用一個(gè)單獨(dú)的64晶片或128晶片的相控陣探頭，創(chuàng)建2個(gè)不同的組：  低增益下的0º線性掃查 高增益下的0º線性掃查 C 使用一個(gè)單獨(dú)的64晶片或128晶片的相控陣探頭，創(chuàng)建3個(gè)不同的組：  45º線性掃查，通過(guò)底面反射來(lái)覆蓋零件的上部 60º線性掃查，覆蓋零件的下部 從35º到70º的扇形掃查，可增加檢出率 D 使用兩個(gè)16晶片或64晶片的相控陣探頭，創(chuàng)建2個(gè)不同的組：  從35º到70º的扇形掃查，以通過(guò)底面反射從工件的左側(cè)進(jìn)行檢測(cè) 從35º到70º的扇形掃查，以通過(guò)底面反射從工件的右側(cè)進(jìn)行檢測(cè) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
相控陣模塊技術(shù)規(guī)格 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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*還可提供16:16、16:16M、16:64M、32:32、32:128型
分享儀器
檢測(cè)設(shè)備/2400全數(shù)字超聲波探傷儀.jpg)
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