TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀被廣泛應(yīng)用于測(cè)量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)。該系統(tǒng)同樣被應(yīng)用于對(duì)液體懸浮顆粒進(jìn)行精確的納米顆粒粒徑測(cè)量。美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)局(NIST)使用TSI差分靜電遷移率分析儀(DMA)對(duì)60nm和100nm的標(biāo)準(zhǔn)參考粒徑進(jìn)行測(cè)量。SMPS TM 掃描電遷移率粒徑譜儀粒徑測(cè)量是審慎的技術(shù),在該技術(shù)方法中計(jì)數(shù)濃度會(huì)被直接測(cè)量而無需假設(shè)粒徑分布的形狀。該方法不依賴于粒子或液體的折射率且具有高度的絕對(duì)粒徑測(cè)量精度和測(cè)量可重復(fù)性。TSI的3938型儀器是SMPS第三代產(chǎn)品,歷經(jīng)30年深受研究者信任。