AMI-U絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng)
面對(duì)電子產(chǎn)品越來(lái)越小型輕量及高密度封裝,因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出,絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng),可高精度連續(xù)監(jiān)測(cè),高效簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。 |