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絕緣電阻測(cè)試儀在測(cè)量過(guò)程中的常見(jiàn)問(wèn)題
[ 2018/3/20 10:29:11 ] [轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明來(lái)源:就是要儀器網(wǎng)]

絕緣電阻測(cè)試儀適用于測(cè)量各種絕緣材料的電阻值及變壓器、電機(jī)、電纜及電器設(shè)備等的絕緣電阻,保證這些設(shè)備、電器和線路工作在正常狀態(tài),避免發(fā)生觸電傷亡及設(shè)備損壞等事故。為了讓大家更好的使用好該儀器,下面給大家講解一下在測(cè)量過(guò)程中的常見(jiàn)問(wèn)題。


 1、在測(cè)容性負(fù)載阻值時(shí),絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流大小與測(cè)量數(shù)據(jù)有什么關(guān)系,為什么?

  緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流的大小可反映出該兆歐表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小。當(dāng)被測(cè)試品存在電容量時(shí),在測(cè)試過(guò)程的開始階段,絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的高壓源要通過(guò)其內(nèi)阻向該電容充電,并逐步將電壓充到絕緣電阻測(cè)試儀的輸出額定高壓值。顯然,如果試品的電容量值很大,或高壓源內(nèi)阻很大,這一充電過(guò)程的耗時(shí)就會(huì)加長(zhǎng)。其長(zhǎng)度可由R內(nèi)和C負(fù)載的乘積決定(單位為秒)。請(qǐng)注意,給電容充電的電流與被測(cè)試品絕緣電阻上流過(guò)的電流,在測(cè)試中是一起流入絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的。絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)得的電流不僅有絕緣電阻上的分量,也加入了電容充電電流分量,這時(shí)測(cè)得的阻值將偏小。

  2、為什么測(cè)絕緣時(shí),不但要求測(cè)單純的阻值,而且還要求測(cè)吸收比,極化指數(shù),有什么意義?

  在絕緣測(cè)試中,某一個(gè)時(shí)刻的絕緣電阻值是不能全面反映試品絕緣性能的優(yōu)劣的,這是由于以下兩方面原因,一方面,同樣性能的絕緣材料,體積大時(shí)呈現(xiàn)的絕緣電阻小,體積小時(shí)呈現(xiàn)的絕緣電阻大。另一方面,絕緣材料在加上高壓后均存在對(duì)電荷的吸收比過(guò)程和極化過(guò)程。所以,電力系統(tǒng)要求在主變壓器、電纜、電機(jī)等許多場(chǎng)合的絕緣測(cè)試中應(yīng)測(cè)量吸收比-即R60s和R15s的比值,和極化指數(shù)-即R10min和R1min比值,并以此數(shù)據(jù)來(lái)判定絕緣狀況的優(yōu)劣。

  3、在高壓高阻的測(cè)試環(huán)境中,為什么要求儀表接"G"端連線?

  在被測(cè)試品兩端加上較高的額定電壓,且絕緣阻值較高時(shí),被測(cè)試品表面受潮濕,污染引起的泄漏較大,示值誤差就大,而儀表"G"端是將被測(cè)試品表面泄漏的電流旁路,使泄漏電流不經(jīng)過(guò)儀表的測(cè)試回路,消除泄漏電流引起的誤差。

  4、在校測(cè)某些型號(hào)絕緣儀表"L"、"E"兩端額定輸出直流高壓時(shí),用指針式萬(wàn)用表DCV檔測(cè)L、E兩端電壓,為什么電壓會(huì)跌落很多,而數(shù)字式萬(wàn)用表則不會(huì)?

  用普通的指針式萬(wàn)用表直接在絕緣電阻測(cè)試儀"L"、"E"兩端測(cè)量其輸出的額定直流電壓,測(cè)量結(jié)果與標(biāo)稱的額定電壓值要小很多(超出誤差范圍),而用數(shù)字萬(wàn)用表則不會(huì)。這是因?yàn)橹羔樖饺f(wàn)用表內(nèi)阻較小,而數(shù)字萬(wàn)用表內(nèi)阻相對(duì)較大。指針式萬(wàn)用表內(nèi)阻較小,絕緣電阻測(cè)試儀L-E端輸出電壓降低很多,不是正常工作時(shí)的輸出電壓。但是,用萬(wàn)用表直接去測(cè)絕緣電阻測(cè)試儀的輸出電壓是錯(cuò)誤的,應(yīng)當(dāng)用內(nèi)阻阻抗較大的靜電高壓表或用分壓器等負(fù)載電阻足夠大的方式去測(cè)量。

  5、為什么電子式絕緣電阻測(cè)試儀幾節(jié)電池供電能產(chǎn)生較高的直流高壓?

  這是根據(jù)直流變換原理,經(jīng)過(guò)升壓電路處理使較低的供電電壓提升到較高的輸出直流電壓,產(chǎn)生的高壓雖然較高但輸出功率較小。

  以上就是我們?cè)谑褂媒^緣電阻測(cè)試儀測(cè)量絕緣電阻會(huì)遇到的一些問(wèn)題,認(rèn)識(shí)它,了解它,對(duì)于我們的測(cè)試工作都是非常有好處的


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