SENDURO自動測量光譜橢偏儀優(yōu)勢:
? 高測量速率
? 全自動樣品校準
? 可測量透明和吸收基底
? 按鍵式操作
? 友好的軟件界面
? 高測量精度
? 最簡化安裝過程
分析一個樣品的時間只需不到10秒鐘,這個時間包括了所有必要的步驟:
? 放置樣品
? 點擊開始測量按鈕,進行如下步驟
o自動樣品校準
o測量數(shù)據(jù)
o計算
o輸出結(jié)果
? 取出樣品
SENDURO把使用者從煩瑣的手動調(diào)節(jié)樣品高度和傾斜度工作中解放出來,樣品對準是為了保證橢偏儀測量的可重復性和精確性。已獲得專利的自動樣品對準裝置能夠顯著減少操作失誤;能夠工作于透明或反射基底;能夠進行地貌圖測量,包括翹曲晶片。
SENDURO自帶全面的預先定義的能夠進行多層膜分析的應用庫。SENDURO的智能自動建模功能能夠在測量時正確識別樣品的結(jié)構(gòu)。
SENTECH′s SENDURO? 軟件能夠測量單層膜和多層膜的厚度和折射率。全部操作在出色的操作向?qū)е敢峦瓿?,可將操作者的對測量結(jié)果的影響減至最小。軟件提供大量測量應用作業(yè)庫,包含自動樣品校準、快速測量數(shù)據(jù)、擬合、結(jié)果報告等全部步驟。
The SENDURO? 操作軟件帶有強大的分析工具,如自動建模、卓越的結(jié)果輸出功能、廣泛的可針對用戶定制的材料和膜層數(shù)據(jù)庫,可輕松更改現(xiàn)有的或創(chuàng)建全新的測量應用程序。軟件包含建模、仿真、擬合等功能,可出色完成對復雜樣品的分析。密碼控制用戶管理支持多用戶,并保證數(shù)據(jù)安全。