主要特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn) |
直觀的、點(diǎn)擊式Windows操作環(huán)境
獨(dú)特的遠(yuǎn)端前置放大器,將SMU的分辨率擴(kuò)展至0.1fA
用于高級(jí)半導(dǎo)體測(cè)試的新型脈沖與脈沖式I-V功能
集成了示波與脈沖測(cè)量功能的新型示波卡
內(nèi)置PC提供快速的測(cè)試設(shè)置、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析、制圖與打印、以及測(cè)試結(jié)果的大容量存儲(chǔ)
獨(dú)特的瀏覽器風(fēng)格的軟件界面,根據(jù)器件的類型來(lái)安排測(cè)試,可以執(zhí)行多項(xiàng)測(cè)試并提供測(cè)試序列與循環(huán)控制功能
內(nèi)置了Stress/Measure,循環(huán)和數(shù)據(jù)分析功能,通過(guò)鼠標(biāo)點(diǎn)擊方式就可進(jìn)行可靠性測(cè)試,包括5個(gè)JEDEC規(guī)范的樣品測(cè)試
支持 Keithley590 型與 Agilent 4284/4294型C-V儀、Keithley開(kāi)關(guān)矩陣與Agilent 81110脈沖發(fā)生器等多種外圍設(shè)備
硬件由Keithley交互式測(cè)試環(huán)境(KITE)來(lái)控制,用戶測(cè)試模塊功能,可用于外接儀表控制與測(cè)試平臺(tái)集成,是KITE功能的擴(kuò)充
包括驅(qū)動(dòng)軟件,支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300,Micromanipulator 的8860自動(dòng)和手動(dòng)探針臺(tái)
支持先進(jìn)的半導(dǎo)體模型參數(shù)提取,包 括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso |
容易使用的4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)用于實(shí)驗(yàn)室級(jí)的器件直流參數(shù)測(cè)試、實(shí)時(shí)繪圖與分析,具有高精度和亞fA級(jí)的分辨率。它提供了最先進(jìn)的系統(tǒng)集成能力,包括完整的嵌入式PC機(jī),WindowsNT操作系統(tǒng)與大容量存儲(chǔ)器。其自動(dòng)記錄、點(diǎn)擊式接口加速并簡(jiǎn)化了獲取數(shù)據(jù)的過(guò)程,這樣用戶可以更快地開(kāi)始分析測(cè)試結(jié)果。 |
應(yīng)用 |
半導(dǎo)體器件:
片上參數(shù)測(cè)試
晶圓級(jí)可靠性
封裝器件的特性分析
使用Model4200-SCS控制外部LCR表進(jìn)行C-V、I-V特性分析
高K柵電荷俘獲
易受自加熱效應(yīng)影響的器件和材料的等溫測(cè)試
電荷泵方法分析MOSFET器件的界面態(tài)密度
電阻式或電容式MEMS驅(qū)動(dòng)特性分析
光電器件:
半導(dǎo)體激光二極管DC/CW特性分析
收發(fā)模塊DC/CW特性分析
PIN和APD特性分析
科技開(kāi)發(fā):
碳納米管特性分析
材料研究
電化學(xué) |