IST6500型存儲(chǔ)器功能參數(shù)測(cè)試儀
IST6500型存儲(chǔ)器功能參數(shù)測(cè)試儀在2NS基頻下,提供四種方法自動(dòng)測(cè)試存取時(shí)間 在2NS到160NS的各種器件(DRAM定時(shí)參數(shù)可編程提供1NS的基頻)從而實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)測(cè)試。
1、IST6500兼?zhèn)溆懈咚匐p通道閾值比較器的可編程動(dòng)態(tài)加載,允許用戶編程DUT輸出口負(fù)載,以達(dá)到一個(gè)寬的工作范圍。這一特性在SIMN器件測(cè)試鐘尤其重要,因?yàn)楹笳唔毥?jīng)常驅(qū)動(dòng),大容量小電阻的負(fù)載。
2、IST6500通過RS-232與PC機(jī)接口,器機(jī)械手接口具有“料箱排序”功能,可將器件按照選定的工作參數(shù)進(jìn)行排序,這在工程元件特性或GO/NO GO測(cè)試中很具有典型意義。 IST6500易于編程,且存儲(chǔ)有100個(gè)不同的用戶自定義測(cè)試路徑,提供了器件的各種工作參數(shù)包括存取時(shí)間,工作電流,備用電流,數(shù)據(jù)保持電流,輸出負(fù)載,DUT電流源,定時(shí)參數(shù),測(cè)試模式及邏輯閾值的自動(dòng)引導(dǎo)測(cè)試或GO/NO GO測(cè)試,同時(shí)引導(dǎo)GO/NO GO 測(cè)試的參數(shù)的預(yù)置極限也可存儲(chǔ)在程序里。
3、IST6500具備一系列完善的存儲(chǔ)測(cè)試模式,并向用戶提供短/長兩種測(cè)試模式,它能在最短的時(shí)間內(nèi)完成絕大多數(shù)RAM指標(biāo)的檢測(cè)。數(shù)據(jù)測(cè)試模式包括:全1,全0,方格噪聲模式,步1,步0,列干擾,滑動(dòng)斜行,移動(dòng)倒置,這些模式能檢測(cè)存儲(chǔ)器芯片上及其他地址上的短路,開路或單值錯(cuò)誤,也能檢測(cè)芯片干擾,信號(hào)轉(zhuǎn)換放大器干擾及噪聲靈敏度錯(cuò)誤。