光普 X熒光光譜儀EDX660介紹
X熒光光譜儀EDX660技術(shù)指標(biāo):
分析范圍 :30%---99.99%
測量時間 :60---300 秒
測量精度 :0.1%---99.99%
測量范圍 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt
重 量 :30KG
尺 寸 :350*500*400mm
X射線源 :X射線光管。
探測器 :正比計數(shù)管
X熒光光譜儀EDX660儀器配置:
單樣品腔
正比計數(shù)器
放大電路
高低壓電源
X光管